میکروسکوپ الکترونی روبشی
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
در میکروسکوپ های الکترونی روبشی با برخورد پرتو الکترونی با اتمهای سطح نمونه و آشکارسازی الکترونهای ثانویه ناشی از یونیزاسیون اتمهای سبک در سطح نمونه و نیز الکترونهای برگشتی ناشی از برخورد الاستیک با هسته های اتمهای سنگین سطح نمونه و همچنین طیف نگاری اشعه ایکس تولید شده می توان به تصاویر و طیفهایی رسید که بیانگر اطلاعات با ارزشی از اتمهای تشکیل دهنده سطح نمونه بوده و به عنوان ابزاری کارآمد در بازه گسترده ای از پژوهشهای شناخت مواد و تصویر برداری از نمونه در ابعاد نانو متری به شمار می رود.