باریکه یونی متمرکز

FOCUS ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPES

 

دستگاه های Dual Beam مجهز به تفنگهای الکترونی و یونی بوده و همزمان با تصویر برداری و مطالعه نمونه با پرتو الکترونی امکان برش و اصلاح در ابعاد میکرونی و نانویی با پرتو یونی هم به دستگاه اضافه شده است. FIB در گستره وسیعی از کاربرد ها از نمونه سازی برای مطالعه TEM تا تستهای قابلیت اطمینان از کارایی و کنترل کیفیت در ساخت مدارات مجتمع در صنعت نیمه هادی به کار می رود.

باریکه یونی متمرکز

FOCUS ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPES

 

دستگاه های Dual Beam مجهز به تفنگهای الکترونی و یونی بوده و همزمان با تصویر برداری و مطالعه نمونه با پرتو الکترونی امکان برش و اصلاح در ابعاد میکرونی و نانویی با پرتو یونی هم به دستگاه اضافه شده است. FIB در گستره وسیعی از کاربرد ها از نمونه سازی برای مطالعه TEM تا تستهای قابلیت اطمینان از کارایی و کنترل کیفیت در ساخت مدارات مجتمع در صنعت نیمه هادی به کار می رود.

فهرست