فلورسانس پرتو ایکس (XRF)

  1. خانه
  2. chevron_right
  3. تجهیزات آزمایشگاهی
  4. chevron_right
  5. آنالیز اشعه ایکس
  6. chevron_right
  7. فلورسانس پرتو ایکس (XRF)

فلورسانس پرتو ایکس

X-RAY FLUORESCENCE

طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس یکی از روش‌ های آنالیز عنصری است که از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می‌ شود. این دستگاه توانایی انجام آنالیز عنصری نمونه‌های معدنی مانند نمونه‌های زمین‌شناسی ، کانی‌ها ، سنگ‌ها ، شیشه ، سیمان ، سرامیک‌ها ، آلیاژهای فلزی و غیره را دارد.

طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس به دو نوع WDS و EDS تقسیم بندی می شود. پس از تابش پرتو ایکس به نمونه مجهول و در اثر برانگیختگی اتم‌ها پرتو ایکس ثانویه  پدید می آیند که با تعیین طول موج (روش WDS) یا انرژی (روش EDS) آنها ، می توان عنصر یا عناصر مورد نظر موجود در نمونه را شناسایی نمود.

در روش WDS پرتو ایکس خروجی از نمونه مجهول ، پیش از ورود به آشکار ساز ، توسط یک کریستال تفکیک می شود. در روش EDSپرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط کریستال آنالیز کننده تفکیک شود، وارد آشکارساز می شود. تفاوت اصلی دو روش EDS و WDS به سرعت ، دقت و قدرت تفکیک این دو روش مربوط است.

شرکت پرتو رایان رستاک متکی بر تجربه طولانی بیست ساله کارشناسان خود آمادگی دارد تا خدمات فنی و تخصصی شامل تامین دستگاه ها و لوازم یدکی و مصرفی ، نصب و راه اندازی ، تعمیرات و نگهداری و کالیبراسیون آنالیزورهای XRF را ارائه نماید.

فهرست