پراش اشعه ایکس (XRD)

  1. خانه
  2. chevron_right
  3. تجهیزات آزمایشگاهی
  4. chevron_right
  5. آنالیز اشعه ایکس
  6. chevron_right
  7. پراش اشعه ایکس (XRD)

پراش اشعه ایکس

X-RAY DIFFRACTION

پراش اشعه ایکس روشی برای مطالعهٔ ساختار مواد کریستالی است که در سال ۱۹۱۲ میلادی کشف شد و توسط ویلیام هنری براگ و ویلیام لورنس براگ برای بررسی کریستال ها بکار گرفته شد.
در اثر برخورد اشعه ایکس به کریستال ها- که در آنها اتم ها با نظم مشخص قرار گرفته اند- پدیده تفرق (Diffraction) حاصل می شود در حالی که اشعه ایکس در برخورد با مواد آمورف ، پراکنده (Scatter) می شود. برای یک ماده خالص ، الگوی پراش پرتو ایکس ، همانند اثر انگشت برای آن ماده است و این الگو برای ترکیبهای معدنی و آلی به صورت یک پایگاه داده جمع‌آوری شده است. با استفاده از این پایگاه داده و با کمک روش جستجو و تطبیق می‌توان ترکیب مواد کریستالی مجهول را مشخص نمود.

پراش اشعه ایکس در مشخصه‌ یابی ساختار بلوری مواد ، از جمله در اندازه‌گیری میانگین فواصل بین لایه‌های اتمی ، بررسی ساختار کریستالی مواد ناشناخته ، تعیین مشخصات ساختاری شامل پارامتر شبکه ، اندازه و شکل دانه  کاربردهای فراوان دارد. هم چنین در تشخیص فازهای کریستالی و موقعیت آن ها و اندازه‌گیری ضخامت فیلم های نازک و چند لایه استفاده می‌شود.

شرکت پرتو رایان رستاک متکی به تجربه طولانی بیست ساله کارشناسان خود  آمادگی دارد تا خدمات فنی و تخصصی شامل تامین دستگاه ها و لوازم یدکی و مصرفی ، نصب و راه اندازی ، تعمیرات و نگهداری و کالیبراسیون دستگاههای XRD را ارائه نماید.

فهرست