میکروسکوپ های الکترونی

میکروسکوپ های الکترونی

سالها پیش ، پژوهشگران به دنبال یافتن علت بیماری آنفولانزا با استفاده از بهترین میکروسکوپهای نوری موجود نتوانستند عامل این بیماری را ببینند و از این رو آن را به جای باکتری ها که معمولا قابل مشاهده و مطالعه با میکروسکوپهای نوری بودند، ویروس نامیدند.

برای مطالعه ویروسها دانشمندان و مهندسان به دنبال ساخت میکروسکوپی بودند که توان بالاتر و قدرت تفکیک بیشتری داشته باشد و چون نور مرئی با توجه به طول موج آن ، قدرت تفکیک محدودی داشت پرتو الکترون را برای مشاهده انتخاب نمودند و میکروسکوپ ساخته شده را میکروسکوپ الکترونی نامیدند.

از آن زمان تا کنون میکروسکوپهای الکترونی با توسعه و طرح های پیشرفته ، توان فوق العاده ای را به تحقیقات در زمینه مطالعه چه در زیست فناوری و چه در نانو فناوری و شناخت ساختار مواد اضافه نمودند. به گونه ای که اکنون هیچ پژوهشی در زمینه ریز ساختارهای در ابعاد نانو چه در مطالعه سلولها و چه در مطالعه اتمها در ساختار مواد بدون این دستگاه مقدور نیست.

میکروسکوپهای الکترونی به دو نوع عبوری(TEM)  و روبشی (SEM) تقسیم می شوند. در نوع عبوری ساختار نمونه و در نوع روبشی اتمهای سطح نمونه مورد مطالعه و تحقیق قرار می گیرند.

شرکت پرتو رایان رستاک متکی به تجربه طولانی بیست ساله کارشناسان خود آمادگی دارد تا خدمات فنی و تخصصی شامل تامین دستگاهها و لوازم یدکی و مصرفی ، نصب ، سرویس ، تعمیر و راه اندازی میکروسکوپ های الکترونی را ارائه نماید.

باریکه یونی متمرکز

FOCUS ION BEAM SCANNING ELECTRON MICROSCOPES

دستگاه های Dual Beam مجهز به تفنگهای الکترونی و یونی بوده و همزمان با تصویر برداری و مطالعه نمونه با پرتو الکترونی امکان برش و اصلاح در ابعاد میکرونی و نانویی با پرتو یونی هم به دستگاه اضافه شده است.

میکروسکوپ الکترونی عبوری

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE

پرتو الکترون با گذر از لنزهای مختلف الکترومغناطیسی و روزنه های خاص طراحی شده به نمونه مورد مطالعه که کاملا نازک سازی شده است تابانده شده و با عبور از بین ساختار اتمی/ سلولی آن و با توجه به طول موج پرتو الکترون امکان آشکارسازی ساختار اتمی به شکل تصاویر ساختاری و الگوهای پراشی را فراهم می نماید.

میکروسکوپ الکترونی روبشی

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

میکروسکوپ های الکترونی روبشی با برخورد پرتو الکترونی با اتمهای سطح نمونه و آشکارسازی الکترونهای ثانویه ناشی از یونیزاسیون اتمهای سبک در سطح نمونه و نیز الکترونهای برگشتی ناشی از برخورد الاستیک با هسته های اتمهای سنگین سطح نمونه و همچنین طیف نگاری اشعه ایکس تولید شده می توان به تصاویر و طیفهایی رسید که بیانگر اطلاعات با ارزشی از اتمهای تشکیل دهنده سطح نمونه می باشد.

فهرست