پراش اشعه ایکس
X-RAY DIFFRACTION
پراش اشعه ایکس روشی برای مطالعهٔ ساختار مواد کریستالی است که در سال ۱۹۱۲ میلادی کشف شد و توسط ویلیام هنری براگ و ویلیام لورنس براگ برای بررسی کریستال ها بکار گرفته شد.
در اثر برخورد اشعه ایکس به کریستال ها- که در آنها اتم ها با نظم مشخص قرار گرفته اند- پدیده تفرق (Diffraction) حاصل می شود در حالی که اشعه ایکس در برخورد با مواد آمورف ، پراکنده (Scatter) می شود. برای یک ماده خالص ، الگوی پراش پرتو ایکس ، همانند اثر انگشت برای آن ماده است و این الگو برای ترکیبهای معدنی و آلی به صورت یک پایگاه داده جمع‌آوری شده است. با استفاده از این پایگاه داده و با کمک روش جستجو و تطبیق می‌توان ترکیب مواد کریستالی مجهول را مشخص نمود.